Оліховський С. Й. Роль об'ємних дефектів і деформацій в приповерхневих шарах трьох монокристалів у формуванні профілів трикристальної рентгенівської дифрактометрії / С. Й. Оліховський, В. Б. Молодкін, Є. М. Кисловський, О. В. Решетник, Т. П. Владімірова, Є. Г. Лень, Дж. E. Айс, Р. О. Барабаш, Р. Келер, Д. О. Григор'єв // Металлофизика и новейшие технологии. - 2005. - 27, № 7. - С. 947-968. - Бібліогр.: 36 назв. - укp.Одержано загальний вираз для дифракційного профілю, вимірюваного трикристальним дифрактометром (ТКД), в якому враховано дифузне розсіяння від дефектів як в досліджуваному кристалі, так і в кристалах монохроматора і аналізатора. Враховано також вплив деформації в приповерхневих шарах всіх трьох кристалів ТКД. Проведено аналіз профілів ТКД від монокристалів кремнію з мікродефектами, визначено характеристики цих мікродефектів у монохроматорі і параметри профілю деформації в приповерхневих шарах досліджуваного кристала, монохроматора і аналізатора. Ключ. слова: трикристальний рентгенівський дифрактометр, динамічна теорія розсіяння, монокристал, мікродефекти, дифузне розсіяння, дифракційний профіль Індекс рубрикатора НБУВ: В372
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|