Описана конструкция импульсной ионной ионизационной камеры для измерения поверхностной альфа-активности различных образцов. Созданный на основе ионизационной камеры низкофоновый спектрометр вместе с соответствующими методами регистрации и обработки сигналов позволяет достичь высокой чувствительности прямых измерений сверхмалых уровней поверхностной альфа-активности. Это дает возможность решить проблему контроля сверхчистых материалов, с нарушенным равновесием в цепи распадов уранового и ториевого рядов, используемых при создании детекторов для исследования редких ядерных процессов. Описана процедура моделирования формы импульсов тока в зависимости от ориентации и местоположения треков альфа-частиц в камере. Приведены результаты измерений с альфа-источником, а также с образцами меди, нержавеющей стали и светоотражающей пленки VM2000.

• Панасенко Сергій Миколайович (медичні науки)
• Раткевич Сергій Станіславович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"