Томашевський О. В. Використання статистичних методів при сертифікаційних випробуваннях інтегрованих мікросхем / О. В. Томашевський, В. В. Погосов, Г. В. Сніжной // Радіоелектроніка. Інформатика. Управління. - 2009. - № 1. - С. 38-41. - Бібліогр.: 4 назв. - укp.
Проанализированы виды испытаний интегральных микросхем и существующих планов их контроля. Выбраны планы и показатели качества для включения в программу сертификационных испытаний. Предложены адекватные процедуры статистической обработки результатов испытаний.
Шифр НБУВ: Ж16683Пошук видання у каталогах НБУВДодаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"