Проаналізовано існуючі методи статистичного управління процесами. Запропоновано модель та методику контролю багатоопераційного, виробничого, статистично керованого процесу з низьким рівнем дефектності, який базується на вимірюванні функцій розподілу ймовірностей міжімпульсних інтервалів на виході детектора дефектів процесу. Наведено розрахунок необхідного часу для виявлення окремих дефектів нижче заданого рівня за заданої достовірності. Застосування методики визначення дефектів на фоні опорного процесу дозволяє зменшити час на аналіз та виявлення джерел системних дефектів, а також забезпечити високу достовірність вимірювань і стабільність результатів процесу у часі.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Віткін Леонід Михайлович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"