С помощью электронной микроскопии на просвет и компьютерного анализа изучены линейные и объемные параметры структуры тонких аморфно-кристаллических пленок (АКП) CrSi2. Разделен вклад зернограничного и поверхностного рассеяний носителей тока в величину удельного сопротивления АКП CrSi2. Показано, что величина отношения зернограничного к поверхностному рассеянию зависит не только от толщины пленки, но и от концентрации кристаллитов и морфологии наноструктуры АКП.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"