За допомогою методу рентгенівської емісійної спектроскопії досліджено вплив розміру наночастинок пірогенного кремнезему на його електронну структуру. Зменшення розміру наночастинок SiO2 із 56,8 до 5,6 нм обумовлює зростання Лапласового тиску від 220 до 2240 атм. Дія Лапласового тиску призводить до зближення атомів кремнію в радіальному напрямку наночастинок, зменшення кута Si - О - Si і зростання довжини силоксанового зв'язку Si-О. При цьому реєструється енергетичне звуження OK<$E alpha> і SiL<$E alpha> емісійних смуг та їх зміщення в напрямку зниження енергії. З'ясовано, що енергетичний перерозподіл цих станів пов'язаний із утворенням Siрd + Op слабких взаємодій <$E pi>-типу. Структурна перебудова поверхні наночастинок і зниження енергії незв'язуючих станів валентних електронів знижує адсорбційну спроможність пірогенного кремнезему щодо молекул води.

• Зауличний Ярослав Васильович (фізико-математичні науки)
• Фоя Олександр Олександрович (фізико-математичні науки)
• Гунько Володимир Мусійович (1951–) (хімічні науки)
• Зарко Володимир Ілліч (фізико-математичні науки)
• Миронюк Іван Федорович (фізико-математичні науки)
• Челядин Володимир Любомирович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"