РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000229990<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Вербицька Т. І. 
Закономірності фазоутворення та термічна стабільність силіциду нікелю NiSi в тонкоплівкових системах Co - Ni, Ni - Ti, Ni - Si на монокристалах кремнію : Автореф. дис... канд. техн. наук : 05.16.01 / Т. І. Вербицька; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т". - К., 2004. - 21 c. - укp.

Уперше установлено вплив орієнтації поверхні монокристалічного кремнію (100), (111) на розвиток твердотільних реакцій у біметалічних системах Co (3000 нм)/Ni (300 нм) на монокристалах Si, що є аналогічним впливу орієнтації поверхні монокристалічного кремнію (100), (111) на розвиток твердотільних реакцій в системі Ni - Si, а саме: процеси силіцидоутворення на підкладці монокристалічного кремнію орієнтації (100) розпочинаються за температури 670 К, температура початку силіцидоутворення на кремнії з орієнтацією поверхні (111) становить 770 К. Виявлено, що у системі Co (300 нм)/Ni (300 нм) на монокристалічному кремнії з орієнтацією поверхні (100) та (111) перетворення силіциду нікелю NiSi у дисиліцид <$Eroman NiSi sub 2> відбувається за температури 870 К, що на 150 К нижче за температуру перетворення NiSi у дисиліцид <$Eroman NiSi sub 2> у системі Ni - Si. Визначено, що послідовність твердотільних реакцій та початок формування силіциду нікелю NiSi у системах Ti (200 нм)/Ni (200 нм) та Ni (200 нм)/Ti (200 нм) на Si (001) залежать від послідовності розташування шарів титану та нікелю (Ti/Ni/Si (001) або Ni/Ti/Si (001)): за умов позиції титану поверх нікелю NiSi - за температури 670 К. Якщо титан знаходиться поміж нікелем та кремнієм NiSi формується за температури 870 К. Показано, що незалежно від розташування шару титану у висхідній плівковій системі силіцид нікелю NiSi є термічно стійким щодо температури 1 170 К, що на 150 К вище за температуру термічної стійкості NiSi у системі Ni - Si. За результатами дослідження з використанням методу спектральної еліпсометрії багатошарових плівкових композицій Ni/Si/Ni/Si... на Si (001)


Індекс рубрикатора НБУВ: В375.1,022 + В372.6,022

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА334313 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Автореферати дисертацій 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського