Вирішено проблему субпіксельної локалізації простих елементів зображення об'єкта на основі низькочастотної фільтрації, що дозволило створити новий клас комп'ютерних опто-електронних систем (КОЕС) геометричних параметрів об'єктів. У даних системах реалізовано принципово нові методи виділення та кількісного оцінювання інформативних ознак досліджуваних зображень. Розроблено моделі дискретної асиметричної та квазіасиметричної межі краю об'єкта, методи знаходження субпіксельної координати краю та виділення контуру на основі гауссової низькочастотної фільтрації. Запропоновано метод автоматичного визначення межі бінаризації, який базується на використанні спеціальної гістограми щільності ймовірності розподілу інтенсивності спільних точок контурних зображень. Розроблено метод субпіксельного визначення координати максимуму розподілу інтенсивності світлової плями на підставі знаходження нахилу функції розподілу в околі пікселя з максимальною ітенсивністю. Проведено комп'ютерне моделювання й експериментальне дослідження нових методів. Запропоновано апаратну реалізацію на ПЛІС паралельно-конвеєрної обробки даних методу виділення контуру з метою підвищення швидкодії попередньої обробки. Розроблено та впроваджено у практику експериментальні макети КОЕС геометричних параметрів об'єктів. Побудовано КОЕС вимірювання поверхневого натягу рідин, КОЕС параметрів стопи людини та постави тіла. Удосконалено промислові рефрактометри й експериментально визначено їх основні метрологічні характеристики.

 Автореферати дисертацій 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"