За допомогою еліпсометричного методу досліджено оптичні властивості поверхневих шарів оптичних стекол К-8 і ТФ-5, а також тонких (<$E10~ symbol Ш ~30> нм) металевих плівок на підкладках з цих стекол, що піддано поверхневій електронно-променевій обробці. Проаналізовано моделі механізмів впливу електронно-променевої обробки на поверхневі шари оптичних стекол з метою прогнозування властивостей виробів. Розроблено ефективні методи еліпсометричних досліджень даних зразків, визначено принципи еліпсометричного експрес-контролю якості поверхонь оптоелектронних скляних плат, отриманих після електронно-променевої обробки. Надано рекомендації щодо проведення еліпсометричних вимірювань для досягнення найбільш високої точності та продуктивності.

 Автореферати дисертацій 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Поздєєв Сергій Валерійович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"