Розвинуто методи дво- та багатохвильової дифракції X-променів з метою дослідження структурних змін у кристалах за дії різних зовнішніх сил. Шляхом функціонального вибору профілю одновимірних деформацій та оптимізації його параметрів проведено моделювання та зіставлення експериментальних і теоретичних дифракційних картин, одержаних за методом Коселя та кривих дифракційного стискування та температурного охолодження синтезованих кристалів алмазу на формування профілів ліній Коселя. З метою підвищення інформативності, чуливості, експресності та достовірності методу Коселя розроблено методи та відповідні пристрої для цифрової обробки топографічних зображень дво- та багатохвильових областей розсіяння X-променів. З використанням методів числового розв'язку системи рівнянь Такагі досліджено механізми й закономірності формування профілів розподілу інтенсивності у дво- та багатохвильових областях дифракції широкорозбіжного пучка X-променів на синтезованих кристалах алмазу, одержаних за різних технологічних умов та за дії зовнішніх сил.

• Кшевецький Олег Станіславович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"