Розглянуто питання субпіксельної локалізації простих елементів зображення об'єкта на основі низькочастотної фільтрації, що дозволило створити новий клас комп'ютеризованих оптико-електронних систем геометричних параметрів об'єктів. Розроблено методи виділення контуру, автоматичного визначення порогу бінаризації, а також метод субпіксельного визначення координати максимуму інтенсивності світлової плями. Проведено комп'ютерне моделювання, а також експериментальні дослідження даних методів.

Рассмотрен вопрос субпиксельной локализации простых элементов изображения объекта на основе низкочастотной фильтрации, что дало возможность создать новый класс компьютеризованных оптико-електронных систем геометрических параметров объектов. Разработаны методы выделения контура, автоматического определения порога бинаризации, а также метод субпиксельного определения координаты максимума интенсивности светового пятна. Проведено компьютерное моделирование, а также экспериментальные исследования данных методов.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"