Розглянуто взаємозв'язок між Мюллер-матричним і поляризаційним картографуванням багатошарових двопроменезаломлюючих мереж. На основі моделювання координатних розподілів азимутів і еліптичностей двопроменезаломлюючих багатошарових мереж виявлено взаємозв'язки між їх статистичними, кореляційними і фрактальними характеристиками у разі збільшення кількості шарів. Запропоновані результати є підгрунтям для розробки критеріїв диференціації оптичних властивостей багатошарових полікристалічних мереж.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Заболотна Наталія Іванівна (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"