РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000331462<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Гоц Н.  
Контроль температури в установках реактивного іонно-плазмового напилення з використанням термометра випромінення / Н. Гоц, Ю. Кривенчук // Вимірюв. техніка та метрологія. - 2011. - Вип. 72. - С. 45-49. - Бібліогр.: 8 назв. - укp.

Процес виготовлення елементів мікроелектроніки на основі процесу іонно-плазмового напилення потребує неперервного контролю температури кремнієвої підкладки. Запропоновано використовувати для цього термометр випромінення. Розглянуто особливості вимірювання температури підкладки термометром випромінення у процесі іонно-плазмового напилення.


Індекс рубрикатора НБУВ: К663.033.057.2-7 с

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж70321 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського