Запропоновано алгоритм побудови профілю електронної концентрації за його характеристиками (висотою головного максимуму, значенням електронної концентрації в максимумі шару F2, верхньою і нижньою півтовщинами, значенням електронної концентрації і шкалою висот на 1000 км). Зроблено огляд виразів, які використано для опису висотного профілю електронної концентрації. Показано перевагу запропонованого алгоритму побудови профілю електронної концентрації. Проілюстровано результати розрахунків профілю за умов варіацій його характеристик. Запропонований алгоритм використано для розв'язання конкретної задачі теоретичного моделювання області F2 іоносфери.

• Грінченко Сергій Володимирович (геологічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"