РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000361055<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Pavlyk B. V. Action of magnetic and X-ray fields on electro-physical properties of temperature sensors = Вплив магнітного та рентгенівського полів на електрофізичні властивості сенсорів температури / B. V. Pavlyk, A. S. Hrypa, R. M. Lys, D. P. Slobodzyan, R. I. Didyk, J. A. Shykoryak // Сенсор. електрон. і мікросистем. технології. - 2009. - № 4. - С. 34-37. - Библиогр.: 6 назв. - англ. The influence of X-ray and magnetic fields on the formation of radiation defects in silicon temperature sensors is investigated by the method of capacitance spectroscopy. It is shown that the defects which are generated by X-ray radiation are more sensitive to weak magnetic fields in comparison with structural defects. Effects of weak magnetic fields (B = 0,17 Tl) on the pattern changes VFC of barrier structures are opposite to the action of X-ray radiation. Індекс рубрикатора НБУВ: З32-53 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж24835 Пошук видання у каталогах НБУВ  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського