Путём анализа кривых дифракционного отражения, которые измерялись на высокоразрешающем двухкристальном рентгеновском дифрактометре, выполнена количественная характеризация сложных микродефектных структур в отожжённом кристалле кремния (1150 <$E symbol Р>C, 40 ч) и их трансформации после выдержки на протяжении одних суток в слабом магнитном поле (0,17 Тл). На основании результатов характеризации, которая выполнялась с использованием формул динамической теории дифракции рентгеновских лучей в несовершенных кристаллах со случайно распределёнными микродефектами нескольких типов, определены изменения концентраций и средних размеров преципитатов кислорода и дислокационных петель после наложения магнитного поля и их зависимости от времени, которое прошло после его снятия.

• Владімірова Тетяна Петрівна (фізико-математичні науки)
• Васильєв Михайло Олексійович (технічні науки)
• Кисловський Євген Миколайович (фізико-математичні науки)
• Молодкін Вадим Борисович (1941–) (фізико-математичні науки)
• Оліховський Степан Йосипович (фізико-математичні науки)
• Кочелаб Євгенія Володимирівна (фізико-математичні науки)
• Коплак Оксана Вячеславівна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"