Исследована эволюция вторичной микроструктуры и электромагнитных параметров при изменении условий термической обработки ферритовых элементов системы Mg - Mn - Zn - Ca - Fe - O, использующихся в переключающих и логических устройствах. С помощью оптического микроскопа виявлено образование в образцах двух типов вторичной микроструктуры - точечной и сетчатой. Последняя резко ухудшает электромагнитные параметры элементов. Точечная структура обнаружена в образцах, спеченных при 1603 К, закаленных от 1273 К и дополнительно отожженных при 823 К. Показано, что отжиг до 3 ч сопровождается ростом коэрцитивной силы Нс без ухудшения остальных параметров. Это позволило в 1,5 раза повысить процент годных элементов путем доведения забракованных (из-за низкой Нс) образцов до годных. Разработана технология, обеспечивающая одинаковый температурно-временной режим для всех отжигаемых образцов партии, а также позволяющая управлять выходом годных элементов через периодическую корректировку продолжительности отжига по результатам разбраковки контрольных партий образцов.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"