Groza A. A. Influence of the neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon / A. A. Groza, E. F. Venger, V. I. Varnina, R. Yu. Holiney, P. G. Litovchenko, L. A. Matveeva, A. P. Litovchenko, M. I. Starchik, V. I. Sugakov // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2001. - 4, № 3. - С. 152-155. - Бібліогр.: 16 назв. - англ.Методом трансмісійної електронної мікроскопії досліджено процеси утворення дефектів структури, що супроводжують преципітацію кисню після нейтронного опромінення (від 1015 до 1019 н/см2) і високотемпературної обробки (від 800 до 1000 °С) в кремнії, вирощеному за методом Чохральського. Виявлено вплив трансформованих дефектів на електрооптичні властивості кремнію. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.227
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|