РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000394859<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Romanjuk B. 
Ultrasound effect on radiation damages in boron implanted silicon / B. Romanjuk, Z. Kruger, V. Melnik, V. Popov, Ya. Olikh, V. Soroka, O. Oberemok // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2000. - 3, № 1. - С. 15-18. - Бібліогр.: 9 назв. - англ.

Досліджено розподіл радіаційних дефектів у кремнії, імплантованому бором у разі використання обробки ультразвуком (УЗ) і без неї. Отримані результати свідчать про суттєвий вплив УЗ обробки in situ на дефектоутворення. У разі використання УЗ обробки концентрація дефектів у зразках зменшується як після імплантації, так і після наступного відпалу. Запропоновано фізичну модель даного ефекту, яка пов'язує його із стимульованою дифузією міжвузлового кремнію під впливом УЗ обробки.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.227 + В379.26

Рубрики:
 Радіаційні ефекти в напівпровідниках 
 Механічні властивості монокристалів напівпровідників 

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського