РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000394877<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Oberemok O. 
Borophosphosilicate glass component analysis by secondary neutrals mass spectrometry (SNMS) / O. Oberemok, P. Lytvyn // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2002. - 5, № 1. - С. 101-105. - Бібліогр.: 11 назв. - англ.

Методику мас-спектрометрії вторинних постіонізованих нейтральних частинок використано для кількісного аналізу борофосфосилікатних плівок, нанесених методом низькотемпературного піролізу на кремнієву підкладку. Проблему зарядження поверхні зразка вирішено застосуванням режиму високочастотного розпилювання дослідженого зразка. Показано, що режими розпилювання суттєво впливають на макро- і мікрорельєф плівки та результати пошарового аналізу структур. Скважність прикладеної до зразка напруги розпилення впливає на форму кратера. Збільшення частоти розпилення призводить до появи тонких шпилів на дні кратера. Покращання роздільної здатності методики за глибиною потребує оптимізації скважності та частоти прикладеної до зразка напруги розпилення.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.224в734.5

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського