Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000395546<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Goloborodko N. S. Determination of surface defects by using the wavefront scanner / N. S. Goloborodko, V. I. Grygoruk, V. N. Kurashov, D. V. Podanchuk, A. A. Goloborodko, M. M. Kotov // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2010. - 13, № 1. - С. 65-69. - Бібліогр.: 10 назв. - англ.The possibility of changes in the polarization state of the laser beam reflected from inhomogeneity with the refractive index gradient is theoretically shown, which allows separating the phase shifts related with relief inhomogeneities and local changes of the surface refractive index. Modification of the wavefront scanner for analyzing the wavefront of the laser beam reflected from the samples' surface is considered. The main idea of the method is to use the focused laser beams with different polarizations for illuminating separate areas of the surface. The results of detecting test surfaces with different structures by the wavefront scanner are presented. Індекс рубрикатора НБУВ: З86-53
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|