By using transmission electron microscopy and computer analysis, linear parameters of the microstructure of <$E roman CrSi sub 2 > thin films consisting of the crystalline and amorphous phases are studied. The results of experiments are processed within the kinetic theory of diffusion coalescence for island films and caking of dispersion powders. The surface self-diffusion coefficient <$E D sub s > is determinated by the kinetics of the mean size of crystallites. The calculations give <$E D sub s~=~(1~symbol Ш~58)~cdot~10 sup -14~ roman {sm sup 2 "/" s}>.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"