![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000509164<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Lysiuk V. O. Modification of optical properties and structure of thin films for enhancing absorption / V. O. Lysiuk // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2014. - 17, № 2. - С. 209-212. - Бібліогр.: 14 назв. - англ.The most used methods such as ion implantation, laser irradiation and nanosphere lithography for modification and creation of special microrelief of thin absorbing films on photosensitive substrates have been described. Controlled modification of surface structure of the samples for improving their optical properties, especially for enhancing absorption, has many applications in optical devices. The basic things were analyzed from selection of film materials and ways for their further processing to shapes and dimensions of the obtained surface structures. Theoretical modeling methods based on the Mie theory and statistical temporal mode-coupled theory have been used to explain the influence of surface microrelief on optical properties of the samples. Advantages and perspectives for application of the methods have been described and analyzed. Індекс рубрикатора НБУВ: В374.73 + В372.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|