Досліджено температурні залежності кінетичних властивостей (електропровідності sigma, коефіцієнта Холла R_H та рухливості mu_H) полікристалічних зразків SnTe з різним ступенем відхилення від стехіометрії в інтервалі 4,2 - 300 К. Встановлено, що показник ступеня в залежності рухливості від температури mu_H = A ^. T^-b збільшується з ростом температури, що пов'язано із зміною переважних механізмів розсіяння дірок при зміні температури. У зразку з концентрацією носіїв p_H77 = 2,6 ^. 10²⁰ см^-3 виявлено аномалії sigma та mu_H, зумовлені фазовим переходом при T_c = 93 К. Додаткове зниження mu_H при фазовому переході внаслідок взаємодії між дірками та м'якою модою ТО фононів складає 8 %. У зразках SnTe з p_H77 = 9,9 ^. 10²⁰ см^-3 та 1,2 ^. 10²¹ см^-3 фазовий перехід не виявлено.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"