РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000518348<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Virchenko Yu. P. 
Heat localization and formation of secondary breakdown structure in semiconductor materials. II. Mathematical analysis of the model / Yu. P. Virchenko, A. A. Vodyanitskii // Functional Materials. - 2002. - 9, № 4. - С. 601-608. - Бібліогр.: 5 назв. - англ.

Показано, якщо нелінійна залежність електропровідності напівпровідникового матеріалу від температури зростає, то існує нестійкість просторово однорідного розв'язку основного рівняння теорії електропробою. Це обумовлює те, що розв'язки мають загострення режиму (залежність від часу містить малий знаменник) у локалізованих просторових областях з характерним розміром - фундаментальною довжиною. Ця властивість розв'зку описує спонтанне виникнення із флуктуацій температурного поля теплової структури, що характеризується сильною локалізацією тепла в областях з розміром порядку фундаментальної довжини. Загострення режиму трактується як тепловий пробій, час формування якого зв'язується з часом загострення. Фізично тепловий пробій виявляється у тому, що виникають проплавлені канали з наступною металізацією або полікристалізацією матеріалу плівки, коли на неї діє імпульс субмікросекундної тривалості.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.271.2

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського