Virchenko Yu. P. Heat localization and formation of secondary breakdown structure in semiconductor materials. III. Analysis of the one-dimensional model / Yu. P. Virchenko, A. A. Vodyanitskii // Functional Materials. - 2004. - 11, № 2. - С. 236-240. - Бібліогр.: 4 назв. - англ.На базі побудованої раніше моделі, яка описує тепловий пробій тонкої напівпровідникової плівки, включеної в електронне коло, оцінено час пробою та розмір області локалізації. Ці оцінки одержано в межах одновимірної моделі на основі параболічних рівнянь, використовуючи зіставлення з еталонними рішеннями, які загострюються. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.2
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|