Severynov V. L. Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V. L. Severynov, I. A. Shaikevich, Y. A. Shybiko // Functional Materials. - 2005. - 12, № 1. - С. 131-132. - Бібліогр.: 4 назв. - англ.Із застосуванням метода Кречмана досліджено кутові залежності поляризаційних параметрів (азимут <$E PSI> відновленої лінійної поляризації та зсув <$E DELTA> фаз між p- і s-компонентами електромагнітної хвилі) для тонких плівок Ag і Au. На підставі цих даних показано, що на довжині хвилі <$E lambda> = 620 нм еліпсометричний сенсор, виготовлений на плівці золота, має вищу чутливість до молекулярних забруднень, ніж сенсор на плівці срібла. Індекс рубрикатора НБУВ: К234.102.6 + К234.202.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|