Shlegel V. N. Comparison of the quality of Bi12GeO20 crystals grown by the conventional and low-temperature-gradient Czochralski techniques / V. N. Shlegel, D. S. Pantsurkin // Functional Materials. - 2010. - 17, № 4. - С. 509-514. - Бібліогр.: 17 назв. - англ.Проведено порівняння якості кристалів Bi12GeO20 (BGO), вирощених за традиційним та низькоградієнтним методами Чохральского. Кристали вирощувалися у напрямку <<111>> за близьких параметрів процесу, за виключенням температурних градієнтів, з одних і тих вихідних компонентів. Описано залежності формотворення і якості кристалів від умов вирощування. Проведено порівняння макродефектів, оцінено щільність дислокацій та однорідність оптичної щільності кристалів, що одержані за умов низьких та високих градієнтів. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.251.4
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|