In this paper the optical polarimetric method for determination of inhomogeneous 2D stress distribution in semiconductor samples is presented. The infrared imaging polarimeter is tested on the example of <$Eroman {As sub 2 Se sub 3 }> semiconductor glass possessing the induced inhomogeneous stresses. The reconstructed distribution of the shear stress tensor component <$Esigma sub 6> and the difference (<$Esigma sub 1 ~-~ sigma sub 2>) of the principal tensor components are in a satisfactory agreement with those predicted theoretically.

• Крупич Олег Миколайович (1965–) (фізико-математичні науки)
• Влох Ростислав Орестович (1964–) (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"