By using atomic force microscopy (resolution of 40 nm) the effect of surface roughness and internal inhomogeneities on the fine structure of domain walls of different types in thin transparent orthoferrite samples cut perpendicular to the optic axis for YFeO₃ and axis [001] for DyFeO₃ has been studied.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"