Рассмотрены различные критерии выявления грубых ошибок, используемые различными исследователями при обнаружении аномальных измерений в условиях ограниченной выборки. Проанализирована их возможность распознавать грубые ошибки, применительно к выборкам малого объема на примере информации, полученной при производстве кристаллов интегральных микросхем. Сделан вывод, что оптимальным критерием для поиска грубых ошибок в малых выборках является критерий Диксона и его модификации для различных законов распределения. Хорошие результаты показали методы Ирвина, Львовского и Титьена-Мура. Рекомендовано для более достоверного определения грубой ошибки в выборке использовать как минимум два из указанных критериев.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"