Предложена новая информационная технология для обработки и анализа подсистемы дефектов выращивания полупроводниковых кристаллов. На основании набора микрофотографий информационная система строит трехмерное изображение полупроводникового кристалла и выводит статистическую информацию о количестве и размерах найденных в кристалле дефектов. Разработан модуль, позволяющий генерировать эталонный набор инфракрасных фотографий для оценки качества распознавания реальных полупроводниковых кристаллов. Проанализированы результаты работы информационной системы о качестве кристаллов и возможной области их применения.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Фочук Петро Михайлович (хімічні науки)
• Халавка Юрій Богданович (1983–) (хімічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"