![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000594742<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Дьяченко Л. И. Информационная технология для анализа подсистемы дефектов выращивания полупроводниковых кристаллов / Л. И. Дьяченко, Е. В. Минов, С. Э. Остапов, П. М. Фочук, Ю. Б. Халавка // Радіоелектрон. і комп'ютер. системи. - 2015. - № 4. - С. 88-95. - Библиогр.: 9 назв. - рус.Предложена новая информационная технология для обработки и анализа подсистемы дефектов выращивания полупроводниковых кристаллов. На основании набора микрофотографий информационная система строит трехмерное изображение полупроводникового кристалла и выводит статистическую информацию о количестве и размерах найденных в кристалле дефектов. Разработан модуль, позволяющий генерировать эталонный набор инфракрасных фотографий для оценки качества распознавания реальных полупроводниковых кристаллов. Проанализированы результаты работы информационной системы о качестве кристаллов и возможной области их применения. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.251.4 в641
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж24450 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|