РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000644807<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Вимірювання у нанотехнологіях: методи і засоби : навч. посіб. / П. Р. Гамула, М. І. Дацюк, В. Я. Крайовський, Я. Т. Луцик, І. П. Микитин; ред.: Б. І. Стадник; Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2016. - 186 c. - Бібліогр.: с. 178-186 - укp.

Розглянуто проблематику вимірювань у нанометровому діапазоні. Описано сучасні методи та засоби, що використовуються у нанометрії: інтерферометрично-оптичні засоби, різноманітні види мікроскопії, зокрема, сканувальну тунельну, атомно-силову й оптичну мікроскопію ближнього поля тощо. Особливу увагу звернено на оптичні сенсори сканувальної мікроскопії та кантилевери. Розглянуто питання метрологічного забезпечення засобів вимірювань нанометрового діапазону.


Індекс рубрикатора НБУВ: Ж10 я73 + Ж620 я73

Рубрики:
 Метрологія. Техніка вимірювань 
 Нанотехнології 

Шифр НБУВ: ВС62425 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського