Досліджено структуру поверхні тонких плівок Y2O3:Eu, одержаних за допомогою методу ВЧ-іонно-плазмового напорошення, за зміни концентрації активатора в межах 1,0 - 7,5 мол.%. Виміряно спектри ІЧ-відбивання одержаних систем тонка плівка Y2O3:Eu - підкладинка з топленого кварцу <$Eupsilon - roman SiO sub 2> у спектральній області 400 - 1600 см<^>-1 за T = 295 К. Проведено інтерпретацію смуг, пов'язаних з коливними процесами у плівках Y2O3:Eu. Встановлено, що смуги ІЧ-відбивання з максимумами в області 1218 і 1253 см<^>-1 є достатньо чутливими до зміни концентрації активатора Eu<^>3+, розміру кристалітів, які формують плівку, та структурної досконалості одержаних плівок.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Бордун Олег Михайлович (фізико-математичні науки)
• Бордун Олександр Миколайович (сільськогосподарські науки)
• Бордун Іван Олегович (фізико-математичні науки)
• Кухарський Ігор Йосифович (фізико-математичні науки)
• Пташник Вадим Вікторович (1988–) (національна безпека)
• Цаповська Жаннета Ярославівна (фізико-математичні науки)
• Леонов Дмитро Сергійович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"