Індутний І. З. Наноструктуровані Au чіпи з підвищеною чутливістю для сенсорів на основі поверхневого плазмонного резонансу / І. З. Індутний, Ю. В. Ушенін, В. І. Минько, П. Є. Шепелявий, М. В. Луканюк, А. А. Корчовий, Р. В. Христосенко // Укр. фіз. журн.. - 2017. - 62, № 5. - С. 365-371. - Бібліогр.: 23 назв. - укp.Проведені дослідження підвищення чутливості поверхневого плазмонного резонансу рефрактометра за рахунок формування періодичного рельєфу у вигляді гратки з субмікронним періодом на поверхні Au чіпа. Періодичний рельєф різної глибини з просторовою частотою v = (3370 +- 5) лін./мм було сформовано на поверхні плівки Au за допомогою інтерференційної літографії з використанням вакуумних халькогенідних фоторезистів. Встановлено, що кратність підвищення чутливості рефрактометра та величина інтервалу зміни показника заломлення <$E DELTA n> середовища, в якому спостерігається це підвищення, залежить від глибини рельєфу гратки. При збільшенні глибини рельєфу ширина робочого інтервалу <$E DELTA n> зменшується, а чутливість збільшується від 110 град./RIU для стандартного чіпа, до 154 град./RIU та 363 град./RIU для структурованих чіпів з глибиною рельєфу, що дорівнює 11,7 +- 2 нм та 18,5 +- 2 нм відповідно. Індекс рубрикатора НБУВ: З965-044.3
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|