![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000662850<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Яценко І. В. Визначення критичних значень параметрів електронного променю при поверхневому оплавленні оптичних елементів точного приладобудування / І. В. Яценко, В. С. Антонюк, В. І. Гордієнко, В. А. Ващенко, О. В. Кириченко // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2017. - 9, № 1. - С. 01010-1-01010-5. - Бібліогр.: 2 назв. - укp.Розроблено математичні моделі глибокого оплавлення елементів з оптичного скла у разі дії електронного променю. Проведено розрахунки товщини оплавленого шару і швидкостей руху поверхні розділу фаз залежно від параметрів електронного променю (густини та часу його теплового впливу). Встановлено, що за зміни густини теплового впливу променю в діапазоні <$E7~cdot~10 sup 6 ~-~8,5~cdot~10 sup 8> Вт/м<^>2 і збільшення часу його впливу до 11 с товщина оплавленого шару може досягати 200 - 500 мкм. Визначено критичні значення параметрів електронного променю, перевищення яких призводить до порушення площинності оптичних елементів, зміни їх геометричної форм і погіршення техніко-експлуатаційних характеристик приладів, аж до їх виходу з ладу. Індекс рубрикатора НБУВ: В342.8
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|