Shtern Yu. I. Investigation of nanostructured thermoelectric material Si0,8Ge0,2P0,022 for application in multisectional legs of thermoelectric elements / Yu. I. Shtern, A. A. Sherchenkov, A. V. Babich, M. S. Rogachev // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2016. - 8, № 4 (ч. 1). - С. 04049-1-04049-3. - Бібліогр.: 6 назв. - англ.Complex investigations of high-temperature thermoelectric material nanostructured Si0,8Ge0,2P0,022 n-type were carried out. Temperature dependencies of conductivity, thermoelectric coefficient and thermal conductivity were studied. Obtained data were used for the calculation of temperature dependence of ZT. Maximum value of ZT = 1,01 is observed at <$E900~symbol Р roman C>. Differential scanning calorimetry indicates on the high thermal stability of the nanostructured material. It was established that optimal temperature range for the application of the material in the multisectional legs of thermoelements is <$E600~-~900~symbol Р roman C>. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж364.2 + В371.212 + В379.271.51
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|