РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000691039<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Djerioui M. A graphical method to study electrostatic potentials of 25 nm channel length DG SOI MOSFETs / M. Djerioui, M. Hebali, D. Chalabi, A. Saidane // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2018. - 10, № 4. - С. 04027-1-04027-4. - Бібліогр.: 21 назв. - англ. To determine electrostatic potentials in silicon channel of undoped DG SOI MOSFET devices, a graphical approach is proposed. The method keeps close to experimental reality by taking into account flat band potential at reduced channel lengths up to 25 nm. This graphical method solves a transcendental equation of Poisson's equation to obtain electrostatic potentials at center and surface of device as a function gate and drain bias voltages. Індекс рубрикатора НБУВ: В377.116.641 Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського