Черепин В. Т. Вторично-ионная эмиссия: матричный эффект / В. Т. Черепин, М. А. Васильев, С. И. Сидоренко, С. М. Волошко, И. А. Круглов // Progress in Physics of Metals. - 2018. - 19, № 4. - С. 418-441. - Библиогр.: 43 назв. - рус.Описана физическая природа зависимости вероятности ионизации распыленных атомов от атомной и электронной структур металлической мишени, бомбардируемой ионами нейтральных газов (матричный эффект). Проведен систематический анализ литературных данных и результатов авторов данного обзора, полученных при исследовании вторичной ионной эмиссии (ВИЭ) чистых металлов, разбавленных твердых растворов и концентрированных сплавов. Практическая важность таких исследований обусловлена тем, что явление ВИЭ является основой уникального метода химического, изотопного и физико-химического анализа не только металлических материалов, но также полупроводников и органических веществ. Установлена высокая чувствительность ВИЭ к изменению сил межатомного взаимодействия и параметров электронной структуры. Систематические данные по "эффекту матрицы" в эмиссии вторичных ионов могут быть основой создания уникального количественного метода определения энергии связи различных атомов в составе многокомпонентных материалов. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж3-1с + В377.131
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж23022 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|