Yaremiy I. P. X-ray analysis of NiCrxFe2-xO4 nanoparticles using Debye - Scherrer, Williamson - Hall and size-strain plot methods = X-променевий аналіз наночастинок NiCrxFe2-xO4 з використанням Дебая - Шеррера, Вільямсона - Холла і графічного розмірно-деформаційного методів / I. P. Yaremiy, V. S. Bushkova, N. I. Bushkov, S. I. Yaremiy // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2019. - 11, № 4. - С. 04020-1-04020-8. - Бібліогр.: 18 назв. - англ.Мета роботи - створення та вивчення наночастинок NiCrxFe2-xO4, використовуючи золь-гель метод за участю автогоріння (ЗГА). Після завершення процесу автогоріння було одержано фазу, яка відповідає кубічній структурі просторової групи шпінелі Fd3m. Встановлено залежність параметра гратки та густини X-променевого випромінювання порошків феритів від вмісту нікелю. Величина параметра гратки зменшуються від 0,8343 нм до 0,8300 нм зі збільшенням вмісту іонів Cr<^>3+. Зменшення параметра гратки за рахунок збільшення концентрації Cr можна пояснити заміною більшого іонного радіуса Fe<^>3+ меншим іонним радіусом Cr<^>3+. X-променева густина dx зростає від 5,360 г-см<^>-3 до 5,387 г-см<^>-3 внаслідок збільшення ступеня заміщення x. Дослідження розподілу катіонів вказує на те, що іони нікелю та хрому мають тенденцію займати октаедричні позиції, тоді як іони заліза мають тенденцію займати як тетраедричні, так і октаедричні підгратки. Морфологічні спостереження показують, що розмір частинок значно зменшується зі збільшенням вмісту Cr, а розмір частинок стає більш однорідним. Розмір частинок і мікродеформації кристалічної гратки були розраховані за шириною X-променевого профілю та кута. Інтегральну ширину <$EK sub { alpha sub 1 }>-лінії одержано за допомогою поділу інтегральної ширини <$EK sub alpha>-дублету, одержаного з експерименту, за коефіцієнтом К. Визначаючи інтегральну ширину, ігнорування дублету призводить до збільшення розрахункових розмірів блоку на 6 %. Розміри частинок порошків NiCrxFe2-xO4 проаналізовано за допомогою формули Шеррера, методу Вільямсона - Холла та розмірно-деформаційного методу. На підставі результатів визначення середнього розміру часток за методом Вільямсона - Холла (24 - 43 нм) спостережено більший розкид експериментальних точок від апроксимаційної прямої, ніж за розмірно-деформаційним методом (19 - 42 нм). Заміщення іонами Cr<^>3+ призводить до зменшення розмірів наночастинок. Значення мікродеформацій <$Eepsilon>, одержаних за допомогою методу SSP, знаходяться в діапазоні від <$E4,69~cdot~10 sup -4> до <$E2,69~cdot~10 sup -3>. Середній розмір частинок NiFe2O4 знайдено за найменшим квадратичним логарифмічним розподілом виміряних точок, одержаних з використанням даних СЕМ. Виявлено, що середній розмір частинок знаходиться в діапазоні 41 - 42 нм. Індекс рубрикатора НБУВ: В371.212 + В372.13
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|