Розглянуто стандартні (пошук умов для підсилення локального поля та покращення його локалізації використанням несиметричних куто- або стрілоподібних апертур) і нові підходи скануючої оптичної мікроскопії ближнього поля. Сформульовано механізм утворення структури локального поля після субдифракційної апертури в шарі реального металу ненульової товщини. Запропоновано використати поляризацію та запровадити еліпсометричну реєстрацію у вимірах у ближньому полі, що дає додаткову гнучкість і є перспективним методом розділення сигналів від топографії та зміни оптичних властивостей поверхні. Запропоновано також концепцію віддаленого зонда - перенос області локалізації поля шаром плазмонного металу із властивостями суперлінзи. Доведено, що такий підхід може дати переваги навіть над ситуацією із зондом, розташованим ближче, за відсутності шару металу. Показано, що зміна локального поля впливає на макроскопічні параметри світла, що реєструється. Форма спектра пропускання тонких плівок залежить від підкладки та біля резонансу описується лінією Фано, а не лінією Лоренца, яка є лише граничним випадком. У результаті дослідження молекулярних шарів за допомогою підсиленого зондом комбінаційного розсіювання запропоновано концепцію стабільного раманівського зонда на основі функціоналізації, що розширює можливості такої мікроскопії на різноманітні, навіть не оптичні ефекти. Показано, що такі функціоналізовані зонди можуть слугувати внутрішнім стандартом у підсиленому зондом комбінаційному розсіюванні, що є першим кроком у перетворенні цього методу на аналітичний. Виявлені ефекти та взаємодії, а також запропоновані нові концепції дозволяють одержувати нову інформацію, відкривають нові перспективи використання оптики ближнього поля зі специфічними функціоналізованими зондами для дослідження різноманітних (не лише оптичних ефектів) із нанометровою роздільною здатністю.

• Борщагівський Євген Григорович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"