Biliuk A. A. Width of the surface plasmon resonance line in spherical metal nanoparticles = Ширина лінії поверхневого плазмонного резонансу в сферичних металевих наночастинках / A. A. Biliuk, O. Yu. Semchuk, O. O. Havryliuk // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2020. - 23, № 3. - С. 308-315. - Бібліогр.: 16 назв. - англ.В останні роки зріс інтерес до вивчення оптичних властивостей металевих наноструктур. Цей інтерес у першу чергу пов'язаний з можливістю практичного застосування таких наноструктур у квантових оптичних комп'ютерах, мікро- та наносенсорах. В основі цих застосувань лежить фундаментальний оптичний ефект збудження поверхневих плазмонів. Поверхневі плазмони - це електромагнітні збудження електронної плазми металів на границі метал-діелектрик, які супроводжуються флуктуаціями густини поверхневого заряду. Наслідком цього явища є поверхневий плазмонний резонанс (ППР) - зростання перерізу поглинання енергії металевою наночастинкою за наближення частоти падаючого світла (лазерного випромінювання) до частоти ППР наночастинки. Знайдено частоту ППР для металевих наночастинок, що знаходяться в діелектричній матриці. Збуджені світлом плазмонні коливання електронів провідності у металевих наночастинках, що знаходяться в діелектричній матриці, з часом затухатимуть за рахунок різних релаксаційних процесів, зокрема за рахунок взаємодії електронів провідності наночастинок з кристалічною граткою (електрон-фононна взаємодія), або за рахунок розсіяння електронів на внутрішній поверхні наночастинки, коли середня довжина вільного пробігу електронів у наночастинці перевищує її розмір. Це зумовлює природну ширину лінії ППР. Показано, що у сферичних металевих наночастинках можуть спостерігатися осциляції ширини лінії ППР зі зміною діелектричної проникності середовища, в якому вони знаходяться. Осциляції добре виражені для наночастинок з меншими радіусами і зникають для наночастинок великих радіусів. Величина цих осциляцій збільшується зі зменшенням радіусу наночастинки і помітно зростає зі збільшенням діелектричної проникності оточуючого середовища. Індекс рубрикатора НБУВ: К391.912
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|