РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000803370<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Фодчук І. М. 
Високороздільча X-променева дифрактометрія кристалічних сполук з розвиненою дислокаційною структурою / І. М. Фодчук, А. Р. Кузьмін, І. І. Гуцуляк, М. С. Солодкий, О. Л. Маслянчук, Ю. Т. Роман, В. П. Кладько, О. Й. Гудименко, В. Б. Молодкін, В. В. Лізунов // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2021. - 43, № 10. - С. 1289-1304. - Бібліогр.: 44 назв. - укp.

Структурні дефекти кристалічних сполук впливають на працездатність приладів, виготовлених на основі таких матеріалів. Запропоновано методику розрахунку дислокаційної структури таких сполук з проміжними значеннями густин дислокацій (~10<^>5 - 10<^>6 см<^>-2). Показано вплив різного роду дефектів на формування дифузної та когерентної складових розподілів інтенсивності розсіяння X-променів. Розглянуто вірогідні дислокаційні реакції як на межах блоків, так і всередині кристалів. На основі кінематичної теорії Кривоглаза з використанням методу Монте-Карло досліджено можливу дислокаційну систему у вигляді набору повних <$E60 symbol Р>-дислокацій та частинних дислокацій.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.313

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського