РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000821596<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Yatsenko I. V. 
Determination of optimal modes of electron-beam micro-treatment of surfaces in optic elements = Визначення оптимальних режимів електронно-променевої мікрообробки поверхонь оптичних елементів / I. V. Yatsenko, V. S. Antonyuk, V. A. Vashchenko, V. I. Gordienko, S. O. Kolinko, T. I. Butenko // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2022. - 14, № 4. - С. 04012-1-04012-7. - Бібліогр.: 14 назв. - англ.

Як показала практика, найбільш зручним, екологічно чистим та легкокерованим способом обробки оптичних елементів є електронно-променевий метод. Однак широке використання електронно-променевої технології у оптико-електронному приладобудуванні стримується відсутністю методів визначення оптимальних режимів електронно-променевої мікрообробки оптичних елементів, що являють собою сукупність керованих параметрів електронного променю (струм електронного потоку <$EI sub b ~=~50~-~300> мА, прискорююча напруга <$EV sub y ~=~ 4~-~8> кВ, відстань до оброблюваної поверхні <$El~=~6~cdot~10 sup -2 ~- ~8~cdot~10 sup -2> м, швидкість переміщення променю <$EV~=~5~cdot~10 sup -2 ~-~5~cdot~10 sup -3> м/с, час теплового впливу t = 0,3 - 1,0 с), перевищення яких призводить до цілого ряду небажаних явищ, які погіршують якість оброблюваних поверхонь. Розроблено математичні моделі процесу нагріву елементів з оптичного скла та кераміки різної геометричної форми та розмірів (тонкоплівкові елементи, тонкі пластини великих розмірів) рухомим стрічковим електронним променем, що надають змогу розрахувати вплив його параметрів на температурні поля у оброблюваних елементах. Встановлено, що збільшення параметрів In та Vy вказаних діапазонах призводить до зростання максимальної температури поверхні оптичних елементів більше, ніж удвічі, а зменшення параметрів l та V - менше, ніж у 1,5 разу. Визначено оптимальні значення параметрів електронного променю, перевищення яких призводить до появи тріщин та відколів у поверхневих шарах елементів, порушення їх геометричної форми та погіршення метрологічних характеристик приладів аж до їх відказів.


Індекс рубрикатора НБУВ: К960.42

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Наукова періодика України 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського