Пошуковий запит: (<.>A=Белый Н$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 31
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. |
Веселовский В. Б. Математическое моделирование и расчет тепловых процессов в коммутационных устройствах. — 2000 // Вісн. Дніпропетр. ун-ту. Сер. Механіка.
|
2. |
Белый Н. Г. Обзор: современные технические радиографические пленки для неразрушающего контроля. — 2001 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
|
3. |
Горбань И. С. Квантовая биэкситонная жидкость в кристаллах моноклинного ZnP2. — 2001 // Физика низ. температур.
|
4. |
Белый Н. Г. Классификация пленочных систем для промышленной радиографии (новые национальные стандарты). — 2003 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
|
5. |
Узлов И. Г. Контроль процесса термомеханического упрочнения арматурного проката при помощи датчика магнитной фазы. — 2001 // Металлург. и горноруд. пром-сть.
|
6. |
Узлов И. Г. Особенности формирования структуры и свойств сортового проката из малоуглеродистых и низколегированных сталей при низкотемпературных деформационно-термических обработках. — 2004 // Металлург. и горноруд. пром-сть.
|
7. |
Белый Н. П. Пути снижения эксплуатационных расходов при ремонте проволочных и мелкосортных станов. — 2004 // Металл и литье Украины.
|
8. |
Белый Н. Г. Радиографическая пленка фирмы KODAK типа INDUSTREX CX. — 2002 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
|
9. |
Жучков С. М. Совершенствование температурно-скоростных режимов прокатки на мелкосортном стане комбината "Криворожсталь". — 2004 // Металлург. и горноруд. пром-сть.
|
10. |
Дмитренко О. П. Структура и оптические свойства пленок фуллеритов C60 при отжиге. — 2004 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
|
11. |
Белый Н. Г. Экспериментальные исследования радиографической пленки СТРУКТУРИКС F8 фирмы АГФА-ГЕВАРТ. — 2001 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
|
12. |
Узлов И. Г. Эффективные параметры производства сортового проката. — 2004 // Металлург. и горноруд. пром-сть.
|
13. |
Дмитренко О. П. Структура и свойства пленок фуллеритов C60, допированных медью. — 2004 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
|
14. |
Дмитренко О. П. Радиационные повреждения и оптические свойства твердых пленок C60 с медью. — 2004 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
15. |
Белый Н. Г. Новые возможности радиографического контроля. — 2005 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
|
16. |
Белый Н. Г. Относительная чувствительность рентгенотелевизионных систем на основе высокочувствительных ПЗС-камер и рентгеновских монокристаллических экранов. — 2007 // Техн. диагностика и неразрушающий контроль.
|
17. |
Дмитренко О. П. Электронная структура твердых пленок C60 - C70 и C60 - C70 - Cd при радиационных повреждениях. — 2005 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
|
18. |
Диякон Л. В. Дефекты структуры многослойных углеродных нанотрубок. — 2007 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
|
19. |
Ботте Т. Л. Корреляция колебательных мод и дисперсия фононных возбуждений в слоистых кристаллах графита и графитоподобного нитрида бора. 1. Классификация и корреляция фононных состояний с нулевым квазиимпульсом. — 2007 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
|
20. |
Губанов В. А. Корреляция колебательных мод и дисперсия фононных возбуждений в слоистых кристаллах графита и графитоподобного нитрида бора. 2. Дисперсия фононных состояний с ненулевым квазиимпульсом и ширина фононных зон. — 2007 // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
|
| |